Menu

Karta produktu

Pobierz dokument

przykładowe dostępne produkty producenta

SEM DISS6

System Digital Imaging Scanning System (DISS) 6 generacji stanowi najnowocześniejsze rozwiązanie w generowaniu skanów i pozyskiwaniu obrazów dla SEM

Czytaj więcej
Wysokotemperaturowy detektor BSE

Wysokotemperaturowy detektor BSE firmy point electronic GmbH to oparty na elektrodach 4Q detektor z wbudowanym polaryzowaniem do wysokotemperaturowej mikroskopii in-situ.

Czytaj więcej
System topografii BSE

System topografii BSE firmy point electronic to nowoczesne rozwiązanie do analizy cech powierzchni na poziomie mikro- i nanoskali.

Czytaj więcej
System Analizy Elektrycznej dla TEM

System Analizy Elektrycznej dla transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oferuje płynną integrację z pełną kontrolą oprogramowania i jest kompatybilny ze wszystkimi mikroskopami TEM wyposażonymi w zewnętrzny interfejs skanowania

Czytaj więcej
Twoja prywatność

Ta strona używa ciasteczek (cookies). Możesz zmienić ustawienia przechowywania plików cookies w Twojej przeglądarce.
[ Dowiedz się więcej ]

Akceptuję