Vitesse Time-of-Flight ICP-MS to aparat charakteryzujący się najszybszym zbieraniem danych o szerokim zakresie mas, do zastosowań takich jak obrazowanie ablacji laserowej i analiza nanocząstek. Jego cechy to:

• Wysoka czułość badania mikronowych cech pierwiastków śladowych w próbkach stałych i określanie składu pierwiastkowego poszczególnych nanocząstek.
• Wysoka selektywność analizowanych pierwiastków dzięki segmentowanej komorze reakcyjnej zoptymalizowanej pod kątem analizy wielopierwiastkowej.
• Wysoka rozdzielczość fizyczna spektrometru mas Time-of-Flight (TOF) w celu zapewnienia analizy bez interferencji.
• Unikatowa opcja quad, cell, TOF (QCT) zapewniająca najwyższą elastyczność eliminowania interferencji.

Możliwa jest również szybka konwencjonalna analiza ICP-MS z szeregiem urządzeń pomocniczych do próbek. Dodatkowa elastyczność jest dostępna dzięki opcjonalnemu pełnowymiarowemu kwadrupolowi przed komorą reakcyjną w celu poprawy selektywności chemikaliów, stosowanych do usuwania trudnych interferencji.