Zapewnia pełną analizę wibracyjną w nanoskali

Czytaj więcej

Umożliwia ultraszybkie badania w nanoskali

Czytaj więcej

Wyznacza standard w pomiarach w nanoskali z „tipami” wspomaganymi IR

Czytaj więcej

Pozwala na odkrywanie nowej nauki

Czytaj więcej

ArBlade 5000/IM5000

Najbardziej zaawansowany system frezowania jonowego przeznaczony do wytwarzania próbek o wyjątkowo wysokiej jakości.

Czytaj więcej

Astrum

Spektrometr mas ze wzbudzeniem wyładowaniem jarzeniowym

Czytaj więcej

Attom ES

Spektrometr masowy z podwójną ogniskową i pojedynczym kolektorem (HR-ICP-MS)

Czytaj więcej

Detektor Premium BSE to wysokowydajny detektor ilościowy na bazie krzemu firmy point electronic GmbH do zastosowań materiałowych, geologicznych i przemysłowych.

Czytaj więcej

Manualna suszarka w punkcie krytycznym odpowiednia do kontrolowanego suszenia elementów MEM, hydrożeli i aerożeli.

Czytaj więcej

FlexSEM II

Kompaktowy skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) do obrazowania i analizy chemicznej przewyższający możliwości konwencjonalnych SEM-ów stołowych z funkcją „niskiej próżni”

Czytaj więcej

Nowa generacja systemów plazmowych do czyszczenia próbek i uchwytów.

Czytaj więcej

Nowa generacja systemów plazmowych do czyszczenia próbek i uchwytów.

Czytaj więcej

HT7800 to rodzina mikroskopów transmisyjnych (TEM) firmy Hitachi o napięciu 120 kV

Czytaj więcej

Horizon 2

Spektrometr masowy do analizy stosunku stabilnych izotopów IRMS (Isotope Ratio Mass Spectrometry)

Czytaj więcej

IM4000II

System frezowania jonowego IM4000II umożliwia frezowanie i polerowanie zarówno powierzchni płaskich, jak i przekrojów poprzecznych, w zależności od przeznaczenia próbek.

Czytaj więcej

Półautomatyczna suszarka w punkcie krytycznym z wbudowanym chłodzeniem termoelektrycznym i adiabatycznym

Czytaj więcej

Półautomatyczna suszarka w punkcie krytycznym zoptymalizowana do suszenia dużych próbek, takich jak podłoża/MEM (do 8”).

Czytaj więcej

Uniwersalne rozszerzenie CLUE Series firmy HORIBA zwiększa możliwości analityczne mikroskopu SEM o pomiar katodoluminescencji, fotoluminescencji oraz obrazowanie Ramana

Czytaj więcej

MiniQS

Napylarka MiniQS to idealne rozwiązanie dla użytkowników poszukujących ekonomicznego urządzenia, które jednocześnie zapewnia powtarzalne wyniki i prostą obsługę.

Czytaj więcej

Modernizacja SEM

Drugie życie dla Twojego SEM – dzięki nowej elektronice, oprogramowaniu i sterownikom. Modernizując SEM przekształcamy przestarzałe urządzenie w najnowocześniejszy SEM z najnowocześniejszą technologią firmy point electronic GmbH

Czytaj więcej

Noblesse HR

Spektrometr masowy do analizy gazów szlachetnych NGMS (Noble Gas Mass Spectrometry)

Czytaj więcej

Panorama

Wysokorozdzielczy spektrometr masowy do analizy stosunku stabilnych izotopów - High Resolution IRMS (Isotope Ratio Mass Spectrometry)

Czytaj więcej

Perspective DI (Dual Inlet)/ CF (Continuous Flow)

Spektrometry masowe do analizy stosunku stabilnych izotopów IRMS (Isotope Ratio Mass Spectrometry)

Czytaj więcej

Plasma 1700

Wysokorozdzielczy, wielokolektorowy spektrometr masowy sprzężony z plazmą wzbudzaną indukcyjnie

Czytaj więcej

Platforma mikroskopu sił atomowych zaprojektowana do połączenia ze spektroskopią optyczną

Czytaj więcej

REVOLON TEM

Kontroler skanowania REVOLON TEM integruje generator skanowania oraz system akwizycji obrazu w jednym urządzeniu

Czytaj więcej

RotaQ

RotaQ to zaawansowana napylarka próżniowa z pompą rotacyjną, zaprojektowana do nanoszenia cienkich warstw metali szlachetnych oraz węgla na próbki przeznaczone do mikroskopii elektronowej.

Czytaj więcej

SEM DISS6

System Digital Imaging Scanning System (DISS) 6 generacji stanowi najnowocześniejsze rozwiązanie w generowaniu skanów i pozyskiwaniu obrazów dla SEM

Czytaj więcej

SU3800/SU3900

Uniwersalny, skaningowy mikroskop elektronowy wyposażony w wytrzymałą i ekonomiczną katodę wolframową typu hairpin

Czytaj więcej

SU3800SE/SE Plus SU3900SE/SE Plus

Uniwersalny, skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową (FE)

Czytaj więcej

SU8600

SU8600 wprowadza nową erę skaningowych mikroskopów elektronowych o ultra-wysokiej rozdzielczości z zimną emisją polową (CFE).

Czytaj więcej

SU8700

SU8700 wprowadza nową erę skaningowych mikroskopów elektronowych o ultra wysokiej rozdzielczości z emisją polową Schottky'ego

Czytaj więcej

SU9000II

SU9000II to nowy mikroskop SEM klasy premium firmy HITACHI. Wyposażony jest w unikalną optykę elektronową, w której próbka umieszczona jest w szczelinie między górną i dolną częścią elementu biegunowego soczewki obiektywu.

Czytaj więcej

SU9600

SU9600 to nowy flagowy model SEM firmy Hitachi z zimną emisją polową o najwyższej rozdzielczości na świecie — teraz z większą przepustowością i ulepszoną automatyzacją oraz wydajnymi procesami roboczymi.

Czytaj więcej

Kompletne rozwiązania spektroskopii Ramana do pomiarów analitycznych, badań Ramana, UV Raman, QC/QA oraz przemysłowych zastosowań Ramana

Czytaj więcej

System Analizy Elektrycznej dla SEM

System Analizy Elektrycznej (EA) dla SEM firmy point electronic to w pełni zintegrowane rozwiązanie kompatybilne z większością systemów SEM i FIB-SEM.

Czytaj więcej

System Analizy Elektrycznej dla TEM

System Analizy Elektrycznej dla transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oferuje płynną integrację z pełną kontrolą oprogramowania i jest kompatybilny ze wszystkimi mikroskopami TEM wyposażonymi w zewnętrzny interfejs skanowania

Czytaj więcej

System przygotowania próbek PP3010 Cryo

Wysoko zautomatyzowany, montowany na kolumnie, chłodzony gazem system przygotowania próbek do mikroskopii SEM w warunkach kriogenicznych oraz system transferu próbek, odpowiedni dla większości marek i modeli W-SEM, FE-SEM oraz FIB/SEM

Czytaj więcej

System topografii BSE

System topografii BSE firmy point electronic to nowoczesne rozwiązanie do analizy cech powierzchni na poziomie mikro- i nanoskali.

Czytaj więcej

TIMS

TIMS (Thermal Ionization Mass Spectrometry) – spektrometr masowy z jonizacją termiczną

Czytaj więcej

TM4000III/TM4000PlusIII

Nowa generacja stołowych skaningowych mikroskopów elektronowych Hitachi TM4000III i TM4000PlusIII została zaprojektowana, aby sprostać wymaganiom laboratoriów, które potrzebują analizować topografię próbek w skali od milimetrów do submikronów

Czytaj więcej

TurboQ

TurboQ to zaawansowana napylarka próżniowa z pompą turbomolekularną, zaprojektowana do nanoszenia cienkich warstw metali szlachetnych i utleniających oraz węgla na próbki przeznaczone do mikroskopii elektronowej.

Czytaj więcej

SST1000 to niewielka, lekka uniwersalna maszyna wytrzymałościowa, wyposażona w pełne sterowanie komputerowe.

Czytaj więcej

Wysokotemperaturowy detektor BSE

Wysokotemperaturowy detektor BSE firmy point electronic GmbH to oparty na elektrodach 4Q detektor z wbudowanym polaryzowaniem do wysokotemperaturowej mikroskopii in-situ.

Czytaj więcej

ZONESEMII

Urządzenie do czyszczenia próbek ZONESEMII wykorzystuje technologię czyszczenia opartą na promieniowaniu UV w celu zminimalizowania lub wyeliminowania zanieczyszczeń węglowodorowych podczas obrazowania mikroskopem elektronowym

Czytaj więcej

ZONETEMII

Innowacyjny urządzenie do czyszczenia próbek ZONETEM II wykorzystuje technologię czyszczenia opartą na promieniowaniu UV w celu zminimalizowania lub wyeliminowania zanieczyszczeń węglowodorowych podczas obrazowania mikroskopem elektronowym.

Czytaj więcej